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스마트카드 IC칩 취약성 분석, 상호 협력

입력 : 2008-06-25 16:48
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KISA, 나노종합팹센터(NNFC)와 협약 체결


한국정보보호진흥원(이하 KISA)은 25일 대전 유성구에서 나노종합팹센터(NNFC)와 스마트카드 IC 칩 시험·취약성 분석 기술 관련 연구협력 및 정보교류 등에 대한  협약을 체결했다.

 

      


양 기관은 스마트카드 IC칩 시험·취약성에 필요한 원천기술을 공동으로 확보해 나갈 수 있는 협력 모델을 마련했다. KISA는 소프트웨어 평가역량을 스마트카드 IC칩을 포함한 하드웨어로 확대할 수 기반을 확보하고, NNFC은 나노기술이 요구되는 IC칩 구조 분석 기술을 스마트카드 IC칩에 확대 적용하기 위한 연구를 수행하게 된다. 주요 협력 분야는 스마트카드 IC칩 기술 관련 정보 교환, 스마트카드 IC칩 시험 및 취약성 분야의 연구 협력, 기타 하드웨어 시험평가 관련 연구 협력 부분이다.


또 개인정보보호 중요성과 함께 수요가 커지고 있는 스마트카드 IC칩에 대한 시험·취약성 분석 기술을 확보할 수 있는 계기를 마련, 이를 토대로 점증적으로 국외에 의존하고 있는 스마트카드 IC칩 평가기술의 자립도를 높이는데도 기여할 것으로 기대하고 있다.

[배군득 기자(boan3@boannews.com)]


<저작권자: 보안뉴스(www.boannews.com) 무단전재-재배포금지>

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